业界首创----非破坏性SiC缺陷检测系统可省巨额成本并提高产出，蔚华科技携南方科技抢攻第三代半导体商机

新竹2023年11月28日 /美通社/ -- 半导体测试解决方案专业品牌蔚华科技（TWSE: 3055）携手旗下数字光学品牌南方科技，共同推出业界首创的JadeSiC-NK非破坏性缺陷检测系统，采用先进非线性光学技术对SiC衬底进行全片扫描，找出衬底内部的致命性晶体缺陷，用以取代现行高成本的破坏性KOH（氢氧化钾）蚀刻检测方式，可提升产量并有助于改善制程。若以每个SiC晶锭需蚀刻2片衬底来计算，JadeSiC-NK可为具有100个长晶炉的衬底厂省下每年5600万因蚀刻而损耗的成本。 蔚华科技与旗下南方科技发表业界首创非破坏性SiC缺陷检测系统，抢攻第三代半导体检测分析市场 需求迅速爆发 SiC衬底与组件供不应求 唯KOH是高成本痛点 在现今环境永续意识抬头的全球趋势下，许多国家已制定电动车的阶段性政策目标，SiC芯片需求迅速爆发，尤其用于生产电动汽车使用的耐高温高压SiC功率半导体组件，供给量远远不及需求